雷達物位計的測量條件介紹

更新時間：2022-03-28 點擊次數(shù)：779

雷達物位計采用微波脈沖的測量方法，并可在工業(yè)頻率波段范圍內(nèi)正常，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內(nèi)，對液體、漿料及顆粒料的物位進行非接觸式連續(xù)測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場合。雷達物位計對人體及環(huán)境均無傷害，還具有不受介質(zhì)比重的影響，不受介電常數(shù)變化的影響，不需要現(xiàn)場校調(diào)等優(yōu)點，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經(jīng)濟實惠的考慮，都是不錯的選擇。

雷達物位計發(fā)射功率很低的*短的微波通過天線系統(tǒng)發(fā)射并接收。雷達波以光速運行。運行時間可以通過電子部件被轉(zhuǎn)換成物位信號。一種特殊的時間延伸方法可以確保極短時間內(nèi)穩(wěn)定和精確的測量。即使存在虛假反射的時候，新的微處理技術(shù)和軟件也可以準確地分析出物位回波。通過輸入容器尺寸，可以將上空距離值轉(zhuǎn)換成與物位成正比的信號。儀表可以空倉調(diào)試。在固體測量中的應用可以使用K-頻段的高頻傳感器。由于信號的聚焦效果好，料倉內(nèi)的安裝物或倉壁的粘附物都不會影響測量。

測量條件

測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算，但在特殊情況下，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量。

若介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時，罐低可見，此時為保證測量精度，建議將零點定在低高度為C 的位置。

理論上測量達到天線尖的位置是可能的，但是考慮到腐蝕及粘附的影響，測量范圍的終值應距離天線的尖至少100mm。

對于過溢保護，可定義一段安全距離附加在盲區(qū)上。

*小測量范圍與天線有關(guān)。

隨濃度不同，泡沫既可以吸收微波，又可以將其反射，但在一定的條件下是可以進行測量的。

雷達物位計按應用可分為兩類：

（1）用于庫存管理或貿(mào)易結(jié)算的高精度液位計量主要用于石油成品油及化學用品液體的精度測量，測量精度主要在1MM以內(nèi)，基本上采用調(diào)頻連續(xù)波原理。價格昂貴，應用量也有限，故只有少數(shù)公司生產(chǎn)，有適用于不同場合的喇叭、拋物面及陣列天線。

（2）用于過程物位監(jiān)測由于工業(yè)過程種類繁多，儀表必須適應各種介質(zhì)，以及不同的溫度、壓力范圍。精度約為0.1%FS或者5mm。這幾年，過程級微波物位計發(fā)展很快，主要是加速普及。在性能提高的同時，價格也相對適中，適用于更多工況。

固態(tài)物料料位，特別是氣體輸送料狀料位（煙灰、成品水泥）一直是物位測量中的難題，但是雷達物位計可以穩(wěn)定、可靠的測量。